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膜厚计LE-373

膜厚计LE-373
膜厚计LE-373
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规格描述
模型
LE-373
产品名称
电磁膜厚计
测量范围
0~2500μm或99.0milsμm
测量方法
电磁感应式
测量目标
磁性金属上的非磁性涂层
探测
单点接触恒压型(LEP-J)
应用内存
100 件
测量精度
50μm以下:±1μm、50μm以上且1000μm以下:±2%、1000μm以上:±3%
解决
100μm以下:0.1μm,100μm以上:1μm
数据存储器
39,000 点
显示方式
数字(带背光的LCD 128 x 64点,*小显示位数0.1μm)
外部输出
计算机(USB 或 RS-232C)
电源
电池 1.5V(AA 碱性)x 4 80mW(背光不亮时)
工作温度限制
0~40℃
外形尺寸
宽75×深145×高31mm
重量
340克
配件
标准板(10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm均为近似值,各1个,共6个/但LH-373不含1500μm,共5个),标准板盒,AA碱性电池x 1.5V、探头适配器、手提箱、铁底座(仅限 LE/373/LZ/373)、铝底座(仅限
产品介绍
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物品描述 这是一款体积小、重量轻、功能多、精度高的膜厚计。 配备统计计算、上下限设置、应用内存等功能。 符合合格标准JISK5600。
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